Ist die Leitung mit Löchern und Elektronen bekannt, lässt sich sehr leicht die Frage anschließen, wie man denn die Leitfähigkeit durch gezieltes zusätzliches Einbringen von Störstellen in Form von Löchern oder Elektronen beeinflussen kann. Das Prinzip der Methode wird beschrieben und im mikroskopischen Bild lässt sich auch dieser wichtige Schritt zur industriellen Nutzung der Halbleitertechnologie gut nachvollziehen. Die Fachbegriffe werden eingeführt und bilden die Basis für die anschließende Betrachtung einfacher Bauteile.